Le dif­frac­to­mètre à rayons X monte sur la paillasse

Pa­na­ly­ti­cal a lan­cé son pre­mier dif­frac­to­mètre à rayons X de paillasse, pour l’analyse des poudres. Mal­gré sa com­pa­ci­té, les dif­fé­rents mo­dèles d’ores et dé­jà dis­po­nibles se­lon les ap­pli­ca­tions af­fichent tous d’ex­cel­lentes per­for­mances.

Mesures - - Sommaire - Cé­dric Lar­dière

Avec une offre com­po­sée de dif­frac­to­mètres à rayons X, de spec­tro­mètres de fluo­res­cence X et de tubes à rayons X, la so­cié­té Pa­na­ly­ti­cal, qui ap­par­tient au groupe bri­tan­nique Spec­tris de­puis 2002, a une grande ex­pé­rience dans le do­maine de l’analyse par rayon X. « Nous pro­po­sions jusque-là une gamme de dif­frac- to­mètres à rayons X de la­bo­ra­toire pour les poudres (Em­py­rean, Cu­bix3, X’pert3 Pow­der et MRD), mais au­cun mo­dèle de paillasse », rap­pelle Hé­lène Cas­te­lain, res­pon­sable du mar­ke­ting et de la com­mu­ni­ca­tion chez Pa­na­ly­ti­cal France, sur le stand de la so­cié­té lors du sa­lon Fo­rum La­bo Pa­ris 2017, qui s’est te­nu du 28 au 30 mars der­nier à Pa­ris Ex­poPorte de Ver­sailles. Avec le lan­ce­ment de l’ae­ris, le fa­bri­cant com­plète ain­si sa gamme avec son pre­mier dif­frac­to­mètre à rayons X de paillasse pour les poudres. Mal­gré un en­com­bre­ment bien moindre que ce­lui des mo­dèles exis­tants, le nou­vel ap­pa­reil n’en de­meure pas moins taillé pour ré­pondre aux exi­gences propres à dif­fé­rentes in­dus­tries. « Il s’agit d’un vrai dif­frac­to­mètre, do­té d’un tube à rayons X Em­py­rean et de dé­tec­teurs à comp­teur de pho­tons PIXCEL1D et PIXCEL3D, as­so­ciés à un vrai go­nio­mètre avec sys­tème de co­dage op­tique di­rect DOPS2 (co­deurs de Hei­den­hain), dé­crit Hé­lène Cas­te­lain. Par exemple, il est pos­sible d’at­teindre une ré­so­lu­tion 2θ in­fé­rieure à 0,04° sur la me­sure de LAB ou une li­néa­ri­té

6 2θ de ± 0,02° ». Pa­na­ly­ti­cal a choi­si de pro­po­ser dif­fé­rentes ver­sions de son nou­veau dif­frac­to­mètre à rayons X. C’est ain­si que sont dis­po­nibles l’ae­ris Re­search, l’ae­ris Ce­ment pour la ci­men­te­rie, l’ae­ris Mi­ne­rals pour l’ex­ploi­ta­tion mi­nière et l’ae­ris Me­tals pour la pro­duc­tion de mé­taux (pro­duits bruts, in­ter­mé­diaires ou dé­ri­vés). Si l’ob­jec­tif des trois der­niers est de pou­voir contrô­ler et op­ti­mi­ser des pro­cess de pro­duc­tion, l’ae­ris Re­search, grâce à une op­tion 2D unique, peut être éga­le­ment uti­li­sé par des étu­diants dans le cadre de l’en­sei­gne­ment des prin­cipes fon­da­men­taux de la dif­frac­tion à rayons X.

Un ap­pa­reil en­tiè­re­ment au­to­ma­ti­sé

En plus d’être com­pacts, les dif­frac­to­mètres Ae­ris n’in­tègrent au­cun sys­tème de re­froi­dis­se­ment par eau ou par air com­pri­mé, et ils n’ont be­soin que d’une prise d’ali­men­ta­tion élec­trique mo­no­pha­sée pour fonc­tion­ner. Ce qui contri­bue gran­de­ment à la ré­duc­tion du coût de pos­ses­sion. « Une autre ori­gi­na­li­té de l’ae­ris ré­side dans la pos­si­bi­li­té d’au­to­ma­ti­ser en­tiè­re­ment l’ap­pa­reil, avec l’ajout d’un pas­seur d’échan­tillons, et donc de l’in­té­grer au contrôle de pro­duc­tion industriel », ex­plique Hé­lène Cas­te­lain. Ce ni­veau d’au­to­ma­ti­sa­tion n’est pas en­vi­sa­geable avec les mo­dèles exis­tants, en rai­son de la pré­sence du sys­tème de re­froi­dis­se­ment et d’une porte de sé­cu­ri­té. En­fin, l’ae­ris est ac­ces­sible par un large éven­tail d’uti­li­sa­teurs. Avec son écran LCD tac­tile 10,4 pouces 1024x768 pixels et son in­ter­face uti­li­sa­teur in­tui­tive, il est très fa­cile de sai­sir les in­for­ma­tions sur l’échan­tillon ve­nant d’être pla­cé, de sé­lec­tion­ner et exé­cu­ter le pro­gramme de me­sure, ain­si que d’af­fi­cher di­rec­te­ment tous les ré­sul­tats.

L’ae­ris est le pre­mier dif­frac­to­mètre à rayons X de Pa­na­ly­ti­cal que les uti­li­sa­teurs peuvent ins­tal­ler sur leur paillasse et en­tiè­re­ment au­to­ma­ti­ser, avec un pas­seur d’échan­tillons.

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