La me­sure sous toutes ses formes a te­nu sa­lon à Pa­ris

COMPTE-REN­DU CIM 2017/ENOVA PA­RIS 2017

Mesures - - Front Page - Cé­dric Lar­dière

Au­jourd’hui, plus en­core qu’hier, la mé­tro­lo­gie, la science et les tech­niques de la me­sure sont des fac­teurs de réus­site in­dis­pen­sables d’une po­li­tique in­dus­trielle mo­derne et dy­na­mique. (…) Car cha­cun d’entre vous sait com­bien la maî­trise de la me­sure est cru­ciale sur l’en­semble de la chaîne de va­leur : de la R&D en la­bo­ra­toire jus­qu’aux contrôles fi­naux. Nous sommes en­trés dans une ère d’in­no­va­tion à des rythmes ja­mais vus au­pa­ra­vant, et cette in­no­va­tion re­quiert des ou­tils de me­sure tou­jours plus per­for­mants et fiables. » C’est en ces termes que Pas­cal Faure, di­rec­teur de la di­rec­tion gé­né­rale des en­tre­prises (DGE) du mi­nis­tère de l’éco­no­mie et des Fi­nances, a ou­vert la 18e édi­tion du CIM. La ren­trée 2017-2018 a donc com­men­cé avec le « ren­dez-vous in­con­tour­nable et le lieu unique en Eu­rope » dans le do­maine de la me­sure, à sa­voir le Con­grès in­ter­na­tio­nal de mé­tro­lo­gie (CIM), or­ga­ni­sé par le Col­lège fran­çais de mé­tro­lo­gie (CFM) conjoin­te­ment avec l’édi­tion 2017 du sa­lon Enova Pa­ris de GL events Ex­hi­bi­tion, du 19 au 21 sep­tembre der­nier, à Pa­ris Ex­po-porte de Ver­sailles ( voir en­ca­dré page 42). Cette édi­tion du CIM a ain­si confir­mé sa place eu­ro­péenne avec un mé­lange équi­li­bré entre des échanges sur les bonnes pra­tiques de me­sure dans le quo­ti­dien des in­dus­triels et des pré­sen­ta­tions à ca­rac­tère plus fu­tu­riste liées aux mu­ta­tions de l’usine du fu­tur. À cô­té des ses­sions aca­dé­miques sur la dé­bit­mé­trie («Amé­lio­ra­tions ré­centes de la ré­fé­rence na­tio­nale fran­çaise en mi­cro­dé­bit li­quide» du Ce­tiat, par exemple), sur l’élec­tri­ci­té («Mo­di­fi­ca­tion des uni­tés élec­triques dans le nou­veau Sys­tème in­ter­na­tio­nal d’uni­tés [SI]» du BIPM), les me­sures ther­miques (pos­ter in­ti­tu­lé «Me­sure de la conduc­ti­vi­té ther­mique des li­quides : com­pa­rai­son entre une mé­thode sta­tion­naire et une mé­thode tran­si­toire» de The­macs), les cinq pre­mières ses­sions en termes d’af­fluence sont la ses­sion plé­nière «Me­su­rer pour in­ven­ter le fu­tur», qui a réuni près de 200 per­sonnes, les ses­sions «Mé­tro­lo­gie 4.0» et «In­cer­ti­tudes et concepts mé­tro­lo­giques », la table ronde sur la «Dé­cla­ra­tion de confor­mi­té: nou­velle ISO/CEI 17 025» ( voir Me­sures n°897) et la ses­sion « Flexi­bi­li­té des me­sures op­tiques ». Les tables rondes sur la «Mé­tro­lo­gie pour l’in­dus­trie phar­ma­ceu­tique» et la «Me­sure dy­na­mique et Usine du fu­tur » ont, elles, créé des échanges nour­ris.

Les la­bo­ra­toires étoffent leurs ser­vices

Pour dé­cou­vrir les der­nières so­lu­tions et ser­vices dans le do­maine de la mé­tro­lo­gie et de la me­sure plus gé­né­ra­le­ment, rien de mieux que d’ar­pen­ter les al­lées du Vil­lage Mé­tro­lo­gie, si­tué donc au sein d’enova Pa­ris. L’édi­teur de lo­gi­ciels fran­çais Del­ta Mu a an­non­cé, en avant­pre­mière –le lan­ce­ment of­fi­ciel fut trois se­maines plus tard–, la ver­sion 6 d’op­ti­mu. « La nou­velle in­ter­face gra­phique, plus in­tui­tive avec sa barre de me­nus, ses fe­nêtres, ses on­glets re­loo­kés, ap­porte des amé­lio­ra­tions pour une meilleure uti­li­sa­tion, quels que soient les sup­ports. Par­mi les prin­ci­paux autres chan-

Pro­fi­tant, une nou­velle fois, de la te­nue conjointe, mi-sep­tembre, du Con­grès in­ter­na­tio­nal de mé­tro­lo­gie et du sa­lon Enova Pa­ris, confé­ren­ciers, in­dus­triels, four­nis­seurs et pres­ta­taires de ser­vices se sont re­trou­vés pour échan­ger sur la mé­tro­lo­gie, qu’elle soit aca­dé­mique ou plus in­dus­trielle, et pour dé­cou­vrir les der­nières in­no­va­tions dans les do­maines de l’éta­lon­nage, des me­sures mé­ca­niques et phy­siques, du test élec­tro­nique. Vi­site gui­dée sub­jec­tive de l’édi­tion 2017…

ge­ments de cette mise à jour, le mo­dule Op­ti­mi­sa­tion à la ges­tion des moyens de me­sure est dé­sor­mais in­té­gré, et la créa­tion et la mise en oeuvre des pro­cé­dures d’éta­lon­nage/ vé­ri­fi­ca­tion sont plus er­go­no­miques », in­dique Nu­no Dos Reis, di­rec­teur gé­né­ral de Del­ta Mu. Mis en oeuvre de­puis une ving­taine d’an­nées en in­terne, le mo­dule Op­ti­mi­sa­tion à la ges­tion des moyens de me­sure per­met d’ap­pli­quer très fa­ci­le­ment les mé­thodes d’op­ti­mi­sa­tion des pé­rio­di­ci­tés d’éta­lon­nage du fas­ci­cule FD X 07-014 (rap­port de pé­rio­di­ci­té, mé­thodes Op­pe­ret et de la dé­rive). Del­ta Mu a lan­cé une ver­sion d’op­ti­ma eser­vice pour les ap­pli­ca­tions 21 CFR Part 11, via un cloud spé­ci­fique dé­ve­lop­pé avec un hé­ber­geur cler­mon­tois. Et n’ou­blions pas, sur le stand de l’édi­teur qui am­bi­tionne de s’in­ter­na­tio­na­li­ser – il est pré­sent en Ita­lie de­puis 2016–, la pré­sence d’élo­die qui pro­po­sait, aux vi­si­teurs qui vou­laient bien s’ar­rê­ter, des conseils sur la Smart Me­tro­lo­gy… Du cô­té d’a+ Me­tro­lo­gie (groupe fran- çais Apave), « si nous sommes orien­tés vers l’éta­lon­nage et les es­sais dans dif­fé­rents do­maines, nous nous dé­ve­lop­pons dé­sor­mais aus­si vers le contrôle 3D sur site et en la­bo­ra­toire. Cette ac­ti­vi­té a dé­mar­ré à la Ciotat, avec le ra­chat de l’ins­ti­tut mé­di­ter­ra­néen de la qua­li­té (IMQ) qui se trouve à Tou­lon, et elle est au­jourd’hui dis­po­nible au sein de trois autres la­bo­ra­toires (Cher­bourg, Bel­fort et Lille) », ex­plique Ju­lien Nioche, res­pon­sable Contrôle 3D site chez A+ Mé­tro­lo­gie. La so­cié­té, qui em­ploie huit per­sonnes pour cette ac­ti­vi­té, dis­pose d’un la­ser de pour­suite (la­ser tra­cker) et d’un bras de me­sure, pour les contrôles sur site, ain­si que de quatre ma­chines à me­su­rer tri­di­men­sion­nelles (MMT), dont l’un des mo­dèles op­tiques les plus grands d’eu­rope, de trois la­ser tra­ckers et trois bras de me­sure, pour les contrôles en la­bo­ra­toire. Le la­bo­ra­toire Eta­lon­nage Mé­tro­lo­gie Main­te­nance (E2M) met­tait en avant ses com­pé­tences tech­niques élar­gies dé­sor­mais à la me­sure du couple. Avec une éten­due de tra­vail al­lant de 5 à 1500N.m, se­lon la norme ISO 6789, la so­cié­té peut dé­sor­mais réa­li­ser l’éta­lon­nage et la vé­ri­fi­ca­tion de clef et de tour­ne­vis dy­na­mo­mé­triques, par exemple, en plus des pres­ta­tions en élec­trique, en tem­pé­ra­ture, en pres­sion, en temps/ fré­quence, en ca­rac­té­ri­sa­tion de vo­lumes et en hy­gro­mé­trie. Le Centre tech­nique des in­dus­tries mé­ca­niques (Ce­tim), lui, a pro­fi­té du CIM pour an­non­cer le lan­ce­ment d’une pla­te­forme dé­diée aux cap­teurs connec­tés in­dus­triels (IIOT), sur son site d’an­ne­cy (Haute-sa­voie), pour ac­com­pa­gner ses clients dans leur dé­marche de connec­ti­vi­té ( nous y re­vien­drons dans un pro­chain nu­mé­ro).

Des bancs aux cap­teurs en me­sure mé­ca­nique

Connu en tant que bu­reau d’études et so­cié­té d’in­gé­nie­rie, le fran­çais Ce­dar­net a dé­ve­lop­pé un al­go­rithme de cor­rec­tion dy­na­mique, as­so­cié à une élec­tro­nique ana­lo­gique et nu­mé­rique in­no­vante ( voir Me­sures n° 897) et as­su­rant le «re­tro­fit» des bancs de me­sure de la So­cié­té ge­ne­voise d’ins­tru­ments de

phy­sique (SIP). La nou­velle gé­né­ra­tion d’élec­tro­nique as­sure en ef­fet la com­pen­sa­tion dy­na­mique des dé­fauts de la règle op­tique et la cor­rec­tion en temps réel de la fluc­tua­tion des si­gnaux en termes d’am­pli­tude, d’off­set et de dé­pha­sage. Ce qui per­met d’at­teindre une pré­ci­sion jus­qu’à 0,1μm, se­lon la tem­pé­ra­ture am­biante, avec une ex­cel­lente ré­pé­ta­bi­li­té et une er­reur d’in­ter­po­la­tion ex­trê­me­ment faible sur toute la course du banc. Tou­jours dans le do­maine de la me­sure mé­ca­nique, le po­lo­nais Rad­wag, dis­tri­bué en France par Ade­mi Pe­sage et Gros­se­ron, pré­sen­tait sur son stand le comparateur de masse ma­gné­tique UMA 5 et le « sus­cep­to­mètre » SMMYA-5, qui me­sure la sus­cep­ti­bi­li­té et l’ai­man­ta­tion per­ma­nente de masses entre 2g et 50kg, se­lon L’OIML R111. « Les com­pa­ra­teurs de masse au­to­ma­tiques UMA, qui existent en trois ver­sions (1 mg-5 g, 1-100 g et 10/100 g-1 kg), re­pré­sentent le plus haut ni­veau en termes de per­for­mances. Ils rendent en ef­fet pos­sibles une com­pa­rai­son des masses de 1 mg à 5 g dans la classe E1 et celles plus basses. Comme ils fonc­tionnent au­to­ma­ti­que­ment et sont équi­pés de ma­ga­sins de masses de 18 à 36 positions, les ins­ti­tuts na­tio­naux de mé­tro­lo­gie (NMI), les la­bo­ra­toires d’éta­lon­nage de masse pu­blics et pri­vés sont en me­sure d’éta­lon­ner plu­sieurs éta­lons de masse à la fois », ex­plique Mi­chal So­le­cki, chief de­si­gn en­gi­neer au sein du dé­par­te­ment des com­pa­ra­teurs de masse de Rad­wag. Le dis­tr ibu­teur fran­çais P M Ins­tru­men­ta­tion in­tro­dui­sait les in­cli­no­mètres ca­pa­ci­tifs Mems JDI-100/200 (simple/double axe) de l’amé­ri­cain Je­well Ins­tru­ments – ils me­surent des angles de faible am­pli­tude de ± 1 ° à ± 60 °, avec une jus­tesse ab­so­lue de 0,02 % de l’éten­due de me­sure. L’al­le­mand Mi­cro-ep­si­lon a lan­cé, quelques mois avant la ma­ni­fes­ta­tion, les cap­teurs à tech­no­lo­gie Blue La­ser (BL) et un mo­dèle avec une éten­due de me­sure 500 mm de son cap­teur de dé­pla­ce­ment à tri­an­gu­la­tion la­ser opTONCDT 1420 ( voir Me­sures n° 883). « Le cap­teur de dé­pla­ce­ment optoncdt 2300-2DR et le scan­ner la­ser 2D/3D scanCon­trol/bl, fonc­tion­nant avec un la­ser bleu (lon­gueur d’onde de 405 nm) et non rouge, sont des­ti­nés aux pièces (se­mi-)trans­pa­rentes, or­ga­niques et in­can­des­centes, chauf­fées à de très hautes tem­pé­ra­tures », in­dique Ele­na

Stant­chev, gé­rante de Mi­croEp­si­lon France. Quant à l’al­le­mand HBM, il pré­sen­tait no­tam­ment le ter­mi­nal de pe­sage WTX120 (éten­due de me­sure de ±3MV/V, ré­so­lu­tion d’af­fi­chage de 30000 éche­lons ou 10 000 éche­lons en OIML R76, in­ter­faces RS232/485, USB, Mod­bus TCP, Pro­fi­bus DP, Pro­fi­net, Ether­net/ip) pour les tran­sac­tions com­mer­ciales, ain­si qu’en avant-pre­mière –le pro­duit était lan­cé of­fi­ciel­le­ment la se­maine sui­vante–, le So­mat EDAQXR qui est la nou­velle gé­né­ra­tion de sys­tème d’ac­qui­si­tion de don­nées et le suc­ces­seur du So­mat EDAQ. Le fa­bri­cant al­le­mand met­tait éga­le­ment en avant sa large gamme de cap­teurs à jauges de contrainte spé­ci­fiques dé­diés aux fa­bri­cants d’équi­pe­ments (OEM). On re­trouve des cap­teurs pour les me­sures de pres­sion, de force, de couple et de charge, dans les sec­teurs tels que le mé­di­cal, l’agri­cul­ture, les vé­hi­cules in­dus­triels, la ro­bo­tique et l’éner­gie.

Des ap­pa­reils d’éta­lon­nage plus mo­dernes

CIM oblige, les vi­si­teurs ont pu dé­cou­vrir les der­nières nou­veau­tés en ma­tière d’éta­lon­nage. Sur le stand de l’al­le­mand Wi­ka étaient pré­sen­tés entre autres le ther­mo­mètre de pré­ci­sion CTR 3000, le ca­li­bra­teur de pres­sion por­table CPH7000, le contrô­leur de pres­sion Men­sor CPC6050 (rem­pla­çant du CPC6000 ; éten­dues de me­sure de -1 bar à 210 bar au lieu de 100 bar) et le ca­li­bra­teur por­table mul­ti­fonc­tions Pas­cal ET/IS (écran cou­leur tac­ti­lev­ga, ver­sion Atex et mo­dule Hart in­té­gré en op­tion). « Nous pro­po­sions jusque-là le CTR5000 qui n’ac­cepte que les sondes de tem­pé­ra­ture à ré­sis­tance (RTD) – pour les ther­mo­couples, il fal­lait for­cé­ment uti­li­ser un ap­pa­reil por­table. Le CTR3000, lui, dis­pose de 2 voies RTD et de 2 voies ther­mo­couple. En plus d’avoir ac­cru les éten­dues de me­sure, le nou­veau ther­mo­mètre se dis­tingue par une in­ter­face uti­li­sa­teur mo­derne, avec écran cou­leur tac­tile, l’ajout d’un en­re­gis­treur, etc. », pré­cise Gilles Du­che­min, res­pon­sable com­mer­cial Pro­duits de ca­li­bra­tion chez Wi­ka Ins­tru­ments. Quant au ca­li­bra­teur de pres­sion por­table CPH7000, il se ca­rac­té­rise par sa po­ly­va­lence avec ses cinq modes de fonc­tion­ne­ment dif­fé­rents, à sa­voir la me­sure (pres­sion, tem­pé­ra­ture, cou­rant et ten­sion), l’éta­lon­nage, le test de com­mu­ta­tion, l’en­re­gis­treur et la si­mu­la­tion de si­gnaux 0/4-24 A. « Autres évo­lu­tions par rap­port au mo­dèle pré­cé­dent, le CPH7000 est éga­le­ment four­ni, en op­tion, avec une pompe de pres­sion in­té­grée (éten­due de me­sure de - 0,85 bar à +25 bar), un ba­ro­mètre et un mo­dule de me­sure des pa­ra- mètres am­biants, il in­tègre un écran tac­tile et une in­ter­face Blue­tooth », dé­crit Gilles Du­che­min. Le fran­çais MB Elec­tro­nique met­tait, lui aus­si, en avant le ca­li­bra­teur de pres­sion por­table CA700 du ja­po­nais Yo­ko­ga­wa Elec­tric, qui a en­fin ob­te­nu son mar­quage CE. « Il s’agit du mo­dèle por­table le plus pré­cis du mar­ché, avec une in­cer­ti­tude de base de 0,01 % de la lec­ture, et il in­tègre dans un seul ap­pa­reil trois éten­dues de me­sure dif­fé­rentes (0-70 bar, 0-100 bar et 0-160 bar) », af­firme Oli­vier Frais­si­net, in­gé­nieur du mar­ke­ting pro­duit chez MB Elec­tro­nique. Le dis­tri­bu­teur pré­sen­tait éga­le­ment sur son stand le gé­né­ra­teur d’hu­mi­di­té 5128A, ain­si que les bains d’éta­lon­nage por­tables 6109A (de + 35 °C à +250 °C) et 7109A (de -25°C à +140°C) de l’amé­ri­cain Fluke Ca­li­bra­tion plus pré­cis en­core que les mi­cro­bains, grâce à une meilleure ho­mo­gé­néi­té (er­reur maxi­male au­to­ri­sée de 0,1°C) et ils sont aus­si com­pa­tibles avec les zones propres, en phar­ma­ceu­tique par exemple. « Pour dif­fé­ren­cier le 5128A des pro­duits concur­rents, en res­tant dans la même gamme de prix, le fa­bri­cant a fait un gros tra­vail sur le cap­teur ca­pa­ci­tif, sur la sta­bi­li­té de son en­vi­ron­ne­ment (± 0,15 % HR et ± 0,05 °C au mi­ni­mum) et sur l’ho­mo­gé­néi­té (± 0,3 % HR et ± 0,12 °C au mi­ni­mum) via une forme par­ti­cu­lière de la chambre et une très bonne iso­la­tion par rap­port à l’ex­té­rieur. L’in­cer­ti­tude glo­bale est d’ailleurs in­di­quée avec un ni­veau de confiance à 95 % », ex-

plique Oli­vier Frais­si­net. Le gé­né­ra­teur d’hu­mi­di­té est par ailleurs très fa­cile à uti­li­ser, via un rem­plis­sage d’eau par se­ringue en face avant, un sys­tème de sé­chage par car­touches des­si­cantes ré­gé­né­rables par le client et fa­ci­le­ment rem­pla­çables. Si­gna­lons en­core le ré­gu­la­teur de pres­sion au­to­ma­tique POC8 du fin­lan­dais Bea­mex. « Le POC8 peut être équi­pé d’une ou deux cel­lules de pres­sion in­ter­chan­geables, pour des plages al­lant du vide à 210 bar – le POC6 qu’il rem­place était li­mi­té à une cel­lule fi­gée et 100 bar – et d’un mo­dule ba­ro­mé­trique. Et nous al­lons in­tro­duire la ver­sion Atex à sé­cu­ri­té in­trin­sèque de notre ca­li­bra­teur por­table MC6. Il s’agi­ra d’une re­fonte com­plète, même si MC6-EX et MC6 se res­sem­ble­ront beau­coup », an­nonce Chris­tophe Bou­bay, di­rec­teur de Bea­mex France.

Plé­thores de nou­veau­tés en ins­tru­men­ta­tion mo­du­laire

Re­tour sur le sa­lon Enova, et plus par­ti­cu­liè­re­ment dans le do­maine du test et de la me­sure. Les fa­bri­cants ont été un peu plus nom­breux, cette an­née, à faire le dé­pla­ce­ment jus­qu’à la porte de Ver­sailles que lors de l’édi­tion pré­cé­dente. Par­mi les «fi­dèles», l’amé­ri­cain Te­le­dyne Le­croy met­tait en avant, sur son stand, sa gamme d’os­cil­lo­scopes nu­mé­riques 12 bits HDO4000A, HDO6000A et HDO8000A. Ils se dis­tinguent tous dé­sor­mais par une fré­quence d’échan­tillon­nage de 10Géch/s, la pré­sence de l’in­ter­face uti­li­sa­teur MAUI with One­touch et d’une plate- forme PC em­bar­quée aux per­for­mances en­core amé­lio­rées. Les vi­si­teurs pou­vaient éga­le­ment s’in­for­mer sur les dé­mons­tra­tions concer­nant la me­sure de puis­sance et l’ana­lyse des bus nu­mé­riques. Autre « fi­dèle », l’amé­ri­cain Na­tio­nal Ins­tru­ments pré­sen­tait, pour la pre­mière en France, Lab­view NXG ( voir Me­sures n° 897), ain­si qu’une so­lu­tion ba­sée sur Com­pac­trio et as­so­ciée à l’ou­til de pré­dic­tion Thing­worx de son com­pa­triote PTC.LE Com­pac­trio ra­pa­trie les don­nées vers un ser­veur pour une ex­ploi­ta­tion par l’ou­til In­sightcm de Na­tio­nal Ins­tru­ments pour la sur­veillance de ma­chines. La démons-

tra­tion pré­sen­tée sur le stand de l’amé­ri­cain met­tait éga­le­ment en oeuvre un ou­til de réa­li­té aug­men­tée sur ta­blette nu­mé­rique, pour as­su­rer la main­te­nance de pompes (re­pé­rer des bulles dom­ma­geables pour leur bon fonc­tion­ne­ment, par exemple). « Nous met­tons par ailleurs en avant un Com­pac­trio dans le­quel est im­plé­men­té un mo­dule de si­mu­la­tion de l’en­vi­ron­ne­ment ou du cal­cu­la­teur. La de­mande en so­lu­tions de HIL [Hard­ware-in-the-loop, NDLR] monte en flèche. Avec le nou­veau sys­tème SLSC-12001, les in­gé­nieurs n’ont plus be­soin de (faire) dé­ve­lop­per une in­ter­face pour les cartes d’en­trées/sor­ties de leur Com­pac­trio. Nous stan­dar­di­sons ain­si la com­mu­ni­ca­tion avec le Com­pac­trio, comme un bus en fait, les cartes nues ser­vant alors à dé­ve­lop­per des cartes per­son­na­li­sées par des par­te­naires pour les uti­li­sa­teurs. Les cartes peuvent en­suite être ré­fé­ren­cées pour la com­mu­nau­té », ex­plique Em­ma­nuel Ro­set, in­gé­nieur mar­ke­ting pour les pro­duits Ac­qui­si­tion de don­nées chez Na­tio­nal Ins­tru­ments France. Autre avan­tage com­pa­ré aux cartes que peut pro­po­ser le fa­bri­cant dans son ca­ta­logue, les cartes du SLSC-12001 sont plus puis­santes, avec des ten­sions plus éle­vées, des jeux de ré­sis­tances com­mu­tables, etc. Tou­jours dans le do­maine de l’ins­tru­men­ta­tion mo­du­laire, le dis­tri­bu­teur Ac­qui­sys était, une nou­velle fois, ve­nu les car­tons pleins de nou­veau­tés. À com­men­cer par l’en­re­gis­treur de tem­pé­ra­ture WEBDAQ-316 de l’amé­ri­cain Mea­su­re­ment Com­pu­ting (groupe Na­tio­nal Ins­tru­ments), le mo­dule LXI de me­sure de tem­pé­ra­ture et de ten­sion EX-1401 – 16 en­trées uni­ver­selles iso­lées jus­qu’à 1000 V entre elles, fré­quence d’échan­tillon­nage de 20 kéch/s par voie, CAN 24 bits par voie, jus­tesse ty­pique de ±0,2°C– et la carte de ré­sis­tance pro­gram­mable PXI Ex­press (PXIE) EMX-7000 de l’amé­ri­cain VT Ins­tru­ments (VTI ; groupe Ame­tek), ain­si que les gé­né­ra­teurs de formes d’onde ar­bi­traires PXIE M4x.66xx-x4 de l’al­le­mand Spec­trum, fa­bri­cant dis­tri­bué d’une ma­nière par­ta­gée par Ac­qui­sys et par Elexo. « Le da­ta log­ger de Mea­su­re­ment Com­pu­ting est un pro­duit in­té­res­sant de par son au­to­no­mie pour la sur­veillance et le contrôle à dis­tance. Toute l’in­tel­li­gence, dont un ser­veur web, est en ef­fet in­té­grée dans le mo­dule, d’où l’ab­sence d’un PC ou d’un lo­gi­ciel sup­plé­men­taire pour confi­gu­rer une ap­pli­ca­tion, en­re­gis­trer des don­nées, en­voyer des no­ti­fi­ca­tions ba­sées sur des condi­tions d’alarme, af­fi­cher les don­nées en temps réel de­puis n’im­porte quel ap­pa­reil do­té d’un na­vi­ga­teur in­ter­net », in­dique Ch­ris­tian Ro­pars, pré­sident d’ac­qui­sys. Cô­té spé­ci­fi­ca­tions, le WEBDAQ-316 af­fiche 16 voies ther­mo­couples, une ré­so­lu­tion de 24 bits, une fré­quence d’échan­tillon­nage de 75 éch/s (1 éch/s en mode Haute ré­so­lu­tion), 4 en­trées/ sor­ties nu­mé­riques pour le dé­clen­che­ment, etc. Suite au ra­chat de Da­ta Trans­la­tion en 2015 par Mea­su­re­ment Com­pu­ting, Ac­qui­sys a re­pris, de­puis jan­vier 2017, la dis­tri­bu­tion ex­clu­sive de l’offre de

Da­ta Trans­la­tion, offre qui s’ar­ti­cule au­tour de l’ac­qui­si­tion de don­nées de vi­bra­tions, no­tam­ment avec des pro­duits OEM. Mais le dis­tri­bu­teur fran­çais est par ailleurs très bien po­si­tion­né dans le do­maine de l’em­bar­qué, avec l’amé­ri­cain In­no­va­tive In­te­gra­tion (groupe Mo­lex) ou le taï­wa­nais Ad­link Tech­no­lo­gy. Le pre­mier a éten­du sa gamme au for­mat XMC avec la carte nu­mé­ri­seur XA-RX et la carte gé­né­ra­teur XA-TX (8 voies échan­tillon­nées res­pec­ti­ve­ment à 125 Méch/s et 300 Méch/s), ain­si que la carte XA160M, pre­mier mo­dule de la nou­velle pla­te­forme XA qui in­tègre un FPGA Ar­tix-7 XC7A100T. Quant à Ad­link Tech­no­lo­gy, il a in­tro­duit le PC in­té­gré sans ven­ti­la­teur très com­plet MXC6400 (pro­ces­seurs In­tel Core i3/i5/i7 de 6e gé­né­ra­tion et chip­set QM170). « Nous pro­po­sons l’in­té­gra­tion de cartes, que nous dis­tri­buons ou pas, dans ce PC, pour ré­pondre à des ap­pli­ca­tions par­ti­cu­lières. Il s’agit d’une nou­velle ac­ti­vi­té (in­té­gra­tion et con­seil) pour Ac­qui­sys », an­nonce Ch­ris­tian Ro­pars.

Des re­tours et de nou­veaux ex­po­sants

L’amé­ri­cain Mar­vin­test So­lu­tions, pré­sent sur le stand de son dis­tri­bu­teur Ac­ce­lo­nix, ve­nait de lan­cer la ver­sion X de son lo­gi­cie­la­tea­sy X ( voir notre ar­ticle page 10) et a com­plé­té son offre de châs­sis au for­mat PXIE, avec trois mo­dèles sup­plé­men­taires: le châs­sis 3U/6U do­té de 14 em­pla­ce­ments GX7100E (fond de pa­nier PCI Ex­press Gen 3 4x4, ali­men­ta­tion de 650 W), les châs­sis 3U à 21 em­pla­ce­ments GX7205 et GX7215 (PCI Ex­press 4x4, 1400W). Les trois mo­dèles dis­posent éga­le­ment des fonc­tions Smart, telles que la sur­veillance et le contrôle de l’ali­men­ta­tion du sys­tème, de la tem­pé­ra­ture au ni­veau des em­pla­ce­ments et de la vi­tesse de ven­ti­la­tion, ain­si que la car­to­gra­phie des dé­clen­che­ments PXI. Par­mi les autres in­no­va­tions vues sur le sa­lon ( nous y re­vien­drons dans nos pro­chains nu­mé­ros), on peut ci­ter l’ana­ly­seur de puis­sance mul­ti­voie et éco­no­mique Dewe2-pa7 du fran­çais De­we­tron ( voir Me­sures n°897), le vi­sua­li­sa­teur de sys­tème Tw­sys­tem, la ver­sion Quad­view in­té­grée à Tests­tand de Na­tio­nal Ins­tru­ments et le nou­veau mo­dule d’ana­lyse de la cou­ver­ture des tes­teurs de câ­blage, de fond de pa­nier, de har­nais et de câbles pour Test­way Ex­press du fran­çais As­ter In­gé­nie­rie, le so­no­mè­tre­tan­go Plus de Si­nus et l’en­re­gis­treur de don­nées étanche Slice IP68 de DTS, les deux pro­duits étant dis­tri­bués en France par Al­lian­tech, les sys­tèmes d’ac­qui­si­tion de don­nées Si­rius R8RT et Si­rius R2DDSA de De­we­soft. Et le fran­çais Co­te­lec avait ras­sem­blé clients, par­te­naires et em­ployés pour cé­lé­brer ses 30 ans d’exis­tence en marge de l’évé­ne­ment. En­fin, faut-il y voir un signe po­si­tif, les vi­si­teurs ont pu consta­ter la ve­nue de nou­veaux ex­po­sants, tels que le taï­wa­nais GW Ins­tek ou la jeune pousse li­mou­geaude Ika­lo­gic, qui ve­nait de lan­cer l’os­cil­lo­scope por­table Ika­scope ( voir Me­sures n° 897). GW Ins­tek, qui s’était as­so­cié pour l’oc­ca­sion à trois dis­tri­bu­teurs (dont Di­mel­co et Tes­toon), cha­cun pré­sent une jour­née, pré­sen­tait entre autres l’os­cil­lo­scope à si­gnaux mixtes MDO-2000E, l’ana­ly­seur de spectre GSP9300B, la charge élec­tro­nique pro­gram­mable PEL-3032E. Pour son re­tour sur le sa­lon Enova Pa­ris, après quelques an­nées d’ab­sence, l’al­le­mand Rohde & Sch­warz pro­fi­tait d’une ac­tua­li­té flo­ris­sante en termes d’in­no­va­tions pour pré­sen­ter cer­tains nou­veaux ap­pa­reils, tels que l’ana­ly­seur de ré­seau vec­to­riel d’en­trée de gamme ZNLE ( voir Me­sures n° 897), l’ana­ly­seur de spectre d’en­trée de gamme FPC1000… D’autres ex­po­sants en­core pro­met­taient des an­nonces d’ici la fin de l’an­née ou le dé­but de 2018, ce qui est de bon au­gure pour les pro­chaines édi­tions d’enova à Lyon (7 et 8 fé­vrier 2018), à Tou­louse (30 et 31 mai) et à Pa­ris (23 et 24 oc­tobre).

L’édi­teur de lo­gi­ciels Del­ta Mu a an­non­cé, en avant-pre­mière, la ver­sion 6 d’op­ti­mu. La nou­velle in­ter­face gra­phique, plus in­tui­tive avec sa barre de me­nus, ses fe­nêtres, ses on­glets re­loo­kés, ap­porte des amé­lio­ra­tions pour une meilleure uti­li­sa­tion, quels que soient les sup­ports.

La 18e édi­tion du Con­grès in­ter­na­tio­nal de mé­tro­lo­gie (CIM) af­fiche une belle sta­bi­li­té, avec 840 confé­ren­ciers et ex­po­sants ve­nant de 45 pays dif­fé­rents (+3,3 % par rap­port à 2015) et une forte crois­sance du nombre de so­cié­tés ex­po­santes (78 en­tre­prises sur le Vil­lage Mé­tro­lo­gie, soit une pro­gres­sion de 37 %).

Les com­pa­ra­teurs de masse au­to­ma­tiques UMA de Rad­wag re­pré­sentent le plus haut ni­veau en termes de per­for­mances. Ils rendent en ef­fet pos­sibles une com­pa­rai­son des masses de 1 mg à 5 g dans la classe E1 et celles plus basses.

Sur le stand de MB Elec­tro­nique, les vi­si­teurs pou­vaient dé­cou­vrir no­tam­ment le ca­li­bra­teur de pres­sion por­table CA700 (à gauche) de Yo­ko­ga­wa Elec­tric, qui a en­fin ob­te­nu son mar­quage CE, et le gé­né­ra­teur d’hu­mi­di­té 5128A (à droite) de Fluke Ca­li­bra­tion.

Avec le CTR3000, Wi­ka pro­pose dé­sor­mais un ther­mo­mètre de pré­ci­sion qui ac­cepte des sondes de tem­pé­ra­ture à ré­sis­tance et des ther­mo­couples, contrai­re­ment au mo­dèle pré­cé­dent, ce qui im­po­sait jusque-là d’uti­li­ser un ap­pa­reil por­table.

Ac­qui­sys était, une nou­velle fois, ve­nu les car­tons pleins de nou­veau­tés, avec entre autres l’en­re­gis­treur de tem­pé­ra­ture WEBDAQ-316 de Mea­su­re­ment Com­pu­ting et le mo­dule LXI de me­sure de tem­pé­ra­ture et de ten­sion EX-1401 de VT Ins­tru­ments.

Pour son re­tour sur le sa­lon Enova Pa­ris, Rohde & Sch­warz pro­fi­tait d’une ac­tua­li­té flo­ris­sante en termes d’in­no­va­tions pour pré­sen­ter cer­tains nou­veaux ap­pa­reils, tels que l’ana­ly­seur de ré­seau vec­to­riel d’en­trée de gamme ZNLE.

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