CUR­SO DE MICROSCOPÍA ELEC­TRÓ­NI­CA AVAN­ZA­DA

Revista +Ciencia de la Facultad de Ingeniería - - Correspondencia Científica -

Del 11 al 13 de ju­nio, el Dr. Ar­tu­ro Pon­ce, de la Uni­ver­si­dad de Te­xas en San An­to­nio, im­par­tió un cur­so de Microscopía Elec­tró­ni­ca Avan­za­da en el INAOE (Ins­ti­tu­to Na­cio­nal de As­tro­fí­si­ca, óp­ti­ca y Elec­tró­ni­ca). Par­ti­ci­pa­ron tres des­ta­ca­das alum­nas de In­ge­nie­ría Am­bien­tal de nues­tra fa­cul­tad: Ro­cío Sán­chez, Raquel Ca­rre­ra y Pau­li­na Smith, quie­nes re­for­za­ron sus co­no­ci­mien­tos en Microscopía Elec­tró­ni­ca de Ba­rri­do (MEB) y apren­die­ron so­bre Microscopía Elec­tró­ni­ca de Trans­mi­sión (MET). Le re­cor­da­mos a to­dos nues­tros lectores que la Uni­ver­si­dad Anáhuac Mé­xi­co cuen­ta con MEB en su la­bo­ra­to­rio de In­ge­nie­ría Am­bien­tal, la cual per­mi­te ana­li­zar mues­tras me­tá­li­cas, bio­ló­gi­cas y prác­ti­ca­men­te de cual­quier ti­po de ma­te­rial.

Ro­cío Sán­chez, Raquel Ca­rre­ra y Pau­li­na Smith con el gru­po que to­mó el cur­so de Microscopía Elec­tró­ni­ca Avan­za­da.

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